A Layout-Aware Pattern Grading Procedure for Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk

Patrick Girard 1 Mohammad Tehranipoor 2 Junxia Ma 2
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2012, 28 (2), pp.201-214
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00816589
Contributeur : Patrick Girard <>
Soumis le : lundi 22 avril 2013 - 15:22:54
Dernière modification le : mercredi 28 mars 2018 - 12:06:08

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00816589, version 1

Collections

Citation

Patrick Girard, Mohammad Tehranipoor, Junxia Ma. A Layout-Aware Pattern Grading Procedure for Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2012, 28 (2), pp.201-214. 〈lirmm-00816589〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

51