Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Résumé

Tutorial

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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Girard_Nicolici_Wen_-_DATE_2011.pdf (4.14 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00820698

Soumis le : lundi 6 mai 2013-14:37:31

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Archivage à long terme le : lundi 19 août 2013-15:25:39

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Dates et versions

lirmm-00820698 , version 1 (06-05-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00820698 , version 1

Citer

Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices. DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2011, Grenoble, France. ⟨lirmm-00820698⟩

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